一種鈍化接觸結(jié)構(gòu)制備方法和具有鈍化接觸結(jié)構(gòu)的晶體硅
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110130675.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112768565A | 公開(公告)日 | 2021-05-07 |
申請公布號 | CN112768565A | 申請公布日 | 2021-05-07 |
分類號 | H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I;H01L31/0216(2014.01)I;H01L31/068(2012.01)I | 分類 | - |
發(fā)明人 | 杜哲仁;趙影文;楊俊楠;張志郢;季根華 | 申請(專利權(quán))人 | 泰州中來光電科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京金之橋知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 袁芳;耿璐璐 |
地址 | 225500江蘇省泰州市姜堰經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)開陽路 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種鈍化接觸結(jié)構(gòu)制備方法,在晶體硅上形成SiOx/AlOx/p?poly的三層式鈍化接觸結(jié)構(gòu),包括:S1:對晶體硅片進(jìn)行預(yù)處理;S2:在預(yù)處理后的晶體硅片表面制備AlOx薄膜;S3:在制備完AlOx薄膜的晶體硅片表面再制備非晶硅薄膜,非晶硅薄膜為本征非晶硅薄膜或摻硼非晶硅薄膜;S4:對本征非晶硅薄膜進(jìn)行硼摻雜處理,本征非晶硅薄膜形成p?poly層,借助硼摻雜處理中的退火過程,通入過量氧氣,在AlOx薄膜下方的晶體硅上形成一層致密SiOx層;或?qū)脚鸱蔷Ч璞∧みM(jìn)行退火處理,摻硼非晶硅薄膜形成p?poly層,借助退火過程,通入過量氧氣,在AlOx薄膜下方的晶體硅上形成一層致密SiOx層;S5:清洗BSG。按本發(fā)明鈍化接觸結(jié)構(gòu)制備方法,可省去單獨(dú)制備SiOx層的工序,且?guī)ж?fù)電荷AlOx薄膜的存在可增強(qiáng)p?poly硅的載流子選擇性,從而增強(qiáng)鈍化效果。?? |
