一種Chrome測(cè)試板和晶元板之間的測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201822159717.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN209342862U 公開(kāi)（公告）日 2019-09-03
申請(qǐng)公布號(hào) CN209342862U 申請(qǐng)公布日 2019-09-03
分類號(hào) G01R31/26（2014.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 蔣衛(wèi)兵 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州微縝電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州凱謙巨邦專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 蘇州微縝電子科技有限公司
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城西北區(qū)02幢(NW-02)103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種Chrome測(cè)試板和晶元板之間的測(cè)試裝置，包括下裝針蓋、金屬主體支架、裝針主體以及上裝針蓋，所述金屬主體支架由外環(huán)體以及內(nèi)環(huán)體構(gòu)成，其中內(nèi)環(huán)體同軸并間隔設(shè)置在外環(huán)體的內(nèi)側(cè)位置；內(nèi)環(huán)體與外環(huán)體直接通過(guò)多塊呈徑向分布的連板固定連接，所述連板之間呈等距周向間隔分布，其中連板之間構(gòu)成有等大的安裝槽，本實(shí)用新型整體采用模塊化結(jié)構(gòu)，對(duì)部分模塊的更換相對(duì)更加方便，而且探針頭的倒角結(jié)構(gòu)也使得探針頭的彈性伸縮更加的順暢。