一種高頻測(cè)試插座
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201720139726.2 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN206601409U | 公開(kāi)(公告)日 | 2017-10-31 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN206601409U | 申請(qǐng)公布日 | 2017-10-31 |
分類(lèi)號(hào) | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 蔣衛(wèi)兵;王堅(jiān);劉育璋;戴云;劉健康 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 蘇州微縝電子科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城西北區(qū)02幢(NW-02)103室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種高頻測(cè)試插座,具有測(cè)試座主體,所述測(cè)試座主體內(nèi)設(shè)有高頻探針,所述高頻探針為兩頭具有彎曲結(jié)構(gòu),所述高頻探針的一端與芯片接觸,其另一端與PCB板接觸,高頻探針組裝在測(cè)試座主體里,高頻探針經(jīng)過(guò)變形組裝到測(cè)試座主體里,高頻探針的一段與芯片接觸,另一端與PCB接觸,從而實(shí)現(xiàn)高頻信號(hào)的傳遞;由于這種高頻探針的結(jié)構(gòu)有別于傳統(tǒng)的探針,這種高頻探針傳輸是通過(guò)彈簧絲傳遞的,與其它傳統(tǒng)探針相比,減少了傳輸環(huán)節(jié),因此具有穩(wěn)定的容抗和感抗。 |
