一種高頻測試插座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710083872.2 申請日 -
公開（公告）號 CN106771409A 公開（公告）日 2017-05-31
申請公布號 CN106771409A 申請公布日 2017-05-31
分類號 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蔣衛(wèi)兵;王堅;劉育璋;戴云;劉健康 申請（專利權）人 蘇州微縝電子科技有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號蘇州納米城西北區(qū)02幢（NW-02）103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種高頻測試插座，具有測試座主體，所述測試座主體內設有高頻探針，所述高頻探針為兩頭具有彎曲結構，所述高頻探針的一端與芯片接觸，其另一端與PCB板接觸，高頻探針組裝在測試座主體里，高頻探針經過變形組裝到測試座主體里，高頻探針的一段與芯片接觸，另一端與PCB接觸，從而實現高頻信號的傳遞；由于這種高頻探針的結構有別于傳統(tǒng)的探針，這種高頻探針傳輸是通過彈簧絲傳遞的，與其它傳統(tǒng)探針相比，減少了傳輸環(huán)節(jié)，因此具有穩(wěn)定的容抗和感抗。