一種高頻測(cè)試探針

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201720139727.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN206601415U 公開（公告）日 2017-10-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN206601415U 申請(qǐng)公布日 2017-10-31
分類號(hào) G01R1/067(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉剛;劉育璋;王堅(jiān);顧培東;余文敏 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州微縝電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 215000 江蘇省蘇州市工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號(hào)蘇州納米城西北區(qū)02幢（NW-02）103室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開了一種高頻測(cè)試探針，具有圓管狀結(jié)構(gòu)的鎢鋼絲繞制而成的本體，所述本體的前端具有勾型結(jié)構(gòu)，本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)簡單、采用鎢鋼絲繞制而成，它的前端與被測(cè)芯片接觸，后端與PCB接觸，不僅提高了承載頻率信號(hào)，這種探針與傳統(tǒng)的探針結(jié)構(gòu)不一致，測(cè)試原理也不同，但是降低了感抗，容抗，實(shí)現(xiàn)了對(duì)高頻信號(hào)的傳輸要求。