一種電鍍件表面膜層的測厚方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110855969.7 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113686273A | 公開(公告)日 | 2021-11-23 |
申請公布號 | CN113686273A | 申請公布日 | 2021-11-23 |
分類號 | G01B15/02;G01N23/2251;G01N23/2202 | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 姚鑫劍;顏飛;宋玉龍 | 申請(專利權)人 | 臨海市偉星化學科技有限公司 |
代理機構 | 北京市中聯(lián)創(chuàng)和知識產權代理有限公司 | 代理人 | 高艷艷;王一民 |
地址 | 317000 浙江省臺州市臨海市古城兩水村 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種電鍍件表面膜層的測厚方法,包括步驟S1,前處理階段:在待測電鍍件A上設置有色邊界層后,將其制備成金相試樣C;S2,測量階段:通過顯微鏡觀察和測量所述金相試樣C中有色邊界層與電鍍層之間的距離d,所述距離d即為所述待測電鍍件A表面膜層的厚度,本發(fā)明所述的電鍍件表面膜層的測厚方法具有操作簡單、成本低、適用范圍廣、檢測結果精確、成功率高,同時,還可以顯示膜層厚度的分布情況的優(yōu)點。 |
