一種光學(xué)元件表面缺陷檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210278836.2 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114689596A 公開(公告)日 2022-07-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114689596A 申請(qǐng)公布日 2022-07-01
分類號(hào) G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 裴寧;王大森;聶鳳明;張旭;夏超翔;黃思玲;李曉靜;郭海林;趙仕燕;范愛國(guó);王雷;李維杰 申請(qǐng)(專利權(quán))人 中國(guó)兵器科學(xué)研究院寧波分院
代理機(jī)構(gòu) 寧波誠(chéng)源專利事務(wù)所有限公司 代理人 -
地址 315103浙江省寧波市高新區(qū)凌云路199號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種光學(xué)元件表面缺陷檢測(cè)裝置,包括有:激光光源模塊,用于發(fā)出激光光束并入射到待檢測(cè)光學(xué)元件的表面;成像模塊,用于收集散射光以形成檢測(cè)圖像;其特征在于:還包括:隔振平臺(tái),所述激光光源模塊和成像模塊均放置于該隔振平臺(tái)上,用于在激光光源模塊和成像模塊掃描運(yùn)動(dòng)時(shí)隔離外界引起的振動(dòng)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:通過設(shè)置隔振平臺(tái)隔離激光光源模塊和成像模塊掃描運(yùn)動(dòng)時(shí)外界引起的振動(dòng),從而能減小外界擾動(dòng)對(duì)系統(tǒng)的檢測(cè)靈敏度和重復(fù)性造成影響,進(jìn)而提高缺陷檢測(cè)的抗干擾能力。因此該缺陷檢測(cè)裝置的檢測(cè)靈敏度高且檢測(cè)準(zhǔn)確率高。