一種CT檢測系統(tǒng)的缺陷檢出性能極限評(píng)估方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201910334850.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN110060293B | 公開(公告)日 | 2022-06-28 |
申請公布號(hào) | CN110060293B | 申請公布日 | 2022-06-28 |
分類號(hào) | G06T7/62(2017.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06K9/62(2022.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 齊子誠;倪培君;鄭穎;余瓊;付康;左欣;唐盛明;郭智敏;李紅偉;馬蘭 | 申請(專利權(quán))人 | 中國兵器科學(xué)研究院寧波分院 |
代理機(jī)構(gòu) | 寧波誠源專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 315103浙江省寧波市高新區(qū)凌云路199號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種CT檢測系統(tǒng)的缺陷檢出性能極限評(píng)估方法,以對(duì)比試塊的CT圖像垂直界面一維點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的中心位置為圓心進(jìn)行周向旋轉(zhuǎn),獲得二維點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù);再通過理想缺陷灰度分布二維圖像與二維點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行卷積得到理想退化缺陷灰度分布二維圖像;并獲得理論含噪聲缺陷灰度分布函數(shù),在缺陷與材料的灰度峰值之間尋找谷值,計(jì)算谷值與缺陷峰值對(duì)應(yīng)的灰度值之比,根據(jù)瑞利判據(jù)判斷出當(dāng)灰度值小于N時(shí),則缺陷可被檢出;在被檢工件的CT圖像中,建立缺陷直徑與灰度值之比的關(guān)系曲線;提取出中灰度值之比為N時(shí)對(duì)應(yīng)的缺陷直徑,該缺陷直徑為該被檢工件的理論缺陷檢測極限。該評(píng)估方法更加可靠,高效,且自動(dòng)化程度高,檢測成本低,檢測精度高。 |
