一種CT檢測系統(tǒng)的缺陷檢出性能極限評估方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910334850.8 申請日 -
公開（公告）號 CN110060293B 公開（公告）日 2022-06-28
申請公布號 CN110060293B 申請公布日 2022-06-28
分類號 G06T7/62（2017.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2022.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 齊子誠;倪培君;鄭穎;余瓊;付康;左欣;唐盛明;郭智敏;李紅偉;馬蘭 申請（專利權(quán)）人 中國兵器科學(xué)研究院寧波分院
代理機構(gòu) 寧波誠源專利事務(wù)所有限公司 代理人 -
地址 315103浙江省寧波市高新區(qū)凌云路199號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種CT檢測系統(tǒng)的缺陷檢出性能極限評估方法，以對比試塊的CT圖像垂直界面一維點擴散函數(shù)的中心位置為圓心進行周向旋轉(zhuǎn)，獲得二維點擴散函數(shù)；再通過理想缺陷灰度分布二維圖像與二維點擴散函數(shù)進行卷積得到理想退化缺陷灰度分布二維圖像；并獲得理論含噪聲缺陷灰度分布函數(shù)，在缺陷與材料的灰度峰值之間尋找谷值，計算谷值與缺陷峰值對應(yīng)的灰度值之比，根據(jù)瑞利判據(jù)判斷出當(dāng)灰度值小于N時，則缺陷可被檢出；在被檢工件的CT圖像中，建立缺陷直徑與灰度值之比的關(guān)系曲線；提取出中灰度值之比為N時對應(yīng)的缺陷直徑，該缺陷直徑為該被檢工件的理論缺陷檢測極限。該評估方法更加可靠，高效，且自動化程度高，檢測成本低，檢測精度高。