一種三維掃描設(shè)備的全局定位方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111576233.2 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114279326A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-04-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114279326A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-04-05 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01B11/00（2006.01）I;G01B11/25（2006.01）I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 郭寅;郭磊;尹仕斌;鄒劍 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 易思維（天津）科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 300000天津市濱海新區(qū)濱海高新區(qū)（環(huán)外）海泰發(fā)展六道3號(hào)廠房3 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種三維掃描設(shè)備的全局定位方法，其利用安裝在工位的全局相機(jī)和裝在機(jī)器人上的三維掃描儀完成；三維掃描設(shè)備使用可編程投影儀；步驟如下：1）預(yù)先獲取投影儀坐標(biāo)系與三維掃描設(shè)備坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換關(guān)系；示教獲取全局定位點(diǎn)在工件坐標(biāo)系下的坐標(biāo)，記為點(diǎn)集I；2）獲取待測(cè)工件點(diǎn)云數(shù)據(jù)，確定投影儀在工件坐標(biāo)系下的位置；3）獲取點(diǎn)集I中屬于投影儀投射區(qū)域的點(diǎn)；4）將其三維坐標(biāo)映射到投影平面上，生成圖片，投射到待測(cè)工件表面；5）分別采集區(qū)域內(nèi)全局定位點(diǎn)圖片；6）將點(diǎn)云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到工件坐標(biāo)系，實(shí)現(xiàn)此片點(diǎn)云的拼接；7）重復(fù)步驟2）～6），完成點(diǎn)云拼接。該方法能在保證最終結(jié)果精度的前提下，有效縮短測(cè)試時(shí)間。 |
