一種顆粒物不規(guī)則程度表征的光學模擬系統(tǒng)及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110786218.4 申請日 -
公開（公告）號 CN114047101B 公開（公告）日 2022-06-10
申請公布號 CN114047101B 申請公布日 2022-06-10
分類號 G01N15/00（2006.01）I;G01N15/02（2006.01）I;G06F17/16（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘小樂;田雨;王自發(fā) 申請（專利權）人 中國科學院大氣物理研究所
代理機構 北京市盛峰律師事務所 代理人 -
地址 100029北京市朝陽區(qū)德勝門外祁家豁子華嚴里40號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種顆粒物不規(guī)則程度表征的光學模擬系統(tǒng)及方法，涉及大氣監(jiān)測技術領域，包括入射光模塊、散射測量腔和強度檢測模塊；所述入射光模塊、散射測量腔和強度檢測模塊同軸設置；所述散射測量腔內設置有前向散射光測量模塊和后向散射光退偏比測量模塊，所述前向散射光測量模塊和所述后向散射光退偏比測量模塊與激光發(fā)射方向呈角度設置。本發(fā)明設計經(jīng)過嚴密的T?Matrix光學模型計算，合理布局光學鏡片的位置，經(jīng)實驗室反復測算，保證較高的儀器信噪比。通過建立合理鏡片組安置順序，采用準直透鏡和聚光透鏡的組合，達到實時、有效探測環(huán)境顆粒物不規(guī)則程度的設計目標，并將數(shù)據(jù)實時傳入遠程監(jiān)控中心，一定程度上提高了大氣污染物不規(guī)則程度探測水平。