表盤缺陷檢測方法、裝置、圖像處理設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911114254.5 申請日 -
公開（公告）號 CN110866911A 公開（公告）日 2020-03-06
申請公布號 CN110866911A 申請公布日 2020-03-06
分類號 G06T7/00;G06T7/10;G06T5/40;G06T7/90;G06K9/62;G06K9/46 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 馮宇;劉洪;趙利博 申請（專利權(quán)）人 華雁智能科技（集團(tuán)）股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 華雁智能科技（集團(tuán)）股份有限公司
地址 四川省成都市高新區(qū)天華二路219號天府軟件園C區(qū)10號樓16層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提出一種表盤缺陷檢測方法、裝置、圖像處理設(shè)備及存儲介質(zhì)，涉及計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)領(lǐng)域。該方法及裝置通過對獲取的原始圖像進(jìn)行預(yù)處理得到預(yù)處理圖像，然后基于預(yù)存儲的第一標(biāo)準(zhǔn)圖像，對預(yù)處理圖像進(jìn)行幾何變換得到變換圖像，接著基于預(yù)存儲的第二標(biāo)準(zhǔn)圖像，從變換圖像中定位得到目標(biāo)圖像區(qū)域，接著根據(jù)目標(biāo)圖像區(qū)域得到歸一化特征，最后對歸一化特征進(jìn)行分類以確定原始圖像是否包含缺陷。通過上述方法實(shí)現(xiàn)對表盤缺陷的自動檢測，既能有效減少人為檢測導(dǎo)致的誤檢、漏檢等情況，還能減少人力成本，并提高檢測效率。