一種高低溫環(huán)境下芯片的批量化檢測線

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111631552.9 申請日 -
公開（公告）號 CN114308699A 公開（公告）日 2022-04-12
申請公布號 CN114308699A 申請公布日 2022-04-12
分類號 B07C5/02（2006.01）I;B07C5/08（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 陸學軍;方亞昆;楊海波;魏前龍;唐龍;陳潘 申請（專利權）人 安徽博微智能電氣有限公司
代理機構 合肥市上嘉專利代理事務所（普通合伙） 代理人 葉洋軍
地址 230031安徽省合肥市高新區(qū)香樟大道168號科技實業(yè)園B-3號樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種高低溫環(huán)境下芯片的批量化檢測線，包括：輸送線體，沿料盤輸送方向依次設有上料、拾取和下料工位；兩套檢測組件，對稱布置在輸送線體兩側，包括芯片拾取機械手、檢測柜陣列、分料轉盤、第一視覺裝置；以及料框機械手，用于將空料盤轉送至分料轉盤上和將分料轉盤上的載滿芯片的料盤轉送至輸送線體上，其中，所述檢測柜設置有垂直分布的多層檢測盒，所述檢測盒中設有加熱器、抽屜和用于驅動抽屜開閉的直線驅動器，所述抽屜中排布有用于高低溫環(huán)境下芯片檢測的若干芯片檢測單元。本檢測線能夠提供高低溫環(huán)境測試，檢測盒采用垂直空間分布，節(jié)省占地面積。設備兼容性好，通過更換檢測工裝可以兼容不同的電子產品的檢測。