一種大視場(chǎng)光學(xué)檢查機(jī)的反射光源裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201922420390.9 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN212159615U 公開(公告)日 2020-12-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN212159615U 申請(qǐng)公布日 2020-12-15
分類號(hào) G01N21/956(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 鄺振房;陳劍平;張駿 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳明銳理想科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市中聯(lián)專利代理有限公司 代理人 深圳明銳理想科技有限公司
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)西麗鎮(zhèn)平山一路大園北區(qū)5棟4樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種大視場(chǎng)光學(xué)檢查機(jī)的反射光源裝置,包括反射鏡模組、相機(jī)模組和面光源,其中若干相機(jī)模組環(huán)繞呈框形結(jié)構(gòu)安裝于機(jī)架上,面光源平鋪安裝于該框形結(jié)構(gòu)上的頂端,而相機(jī)模組安裝于面光源上并朝下設(shè)置,從而使得面光源和機(jī)架下電路板之間的空間成為密封空間,面光源的光線通過(guò)反射鏡的彼此反射,從而照射到電路板上的視野區(qū)光線更加均勻,也不會(huì)因高的元器件相互遮擋而出現(xiàn)陰影和死角,提升大視場(chǎng)光學(xué)檢查機(jī)對(duì)電路板的檢測(cè)質(zhì)量。??