一種芯片封裝結(jié)構(gòu)制作方法及芯片封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111091989.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN113808958A | 公開(公告)日 | 2021-12-17 |
申請公布號(hào) | CN113808958A | 申請公布日 | 2021-12-17 |
分類號(hào) | H01L21/48(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L23/13(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 章霞 | 申請(專利權(quán))人 | 成都奕成集成電路有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 成都極刻智慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 張紅平 |
地址 | 610000四川省成都市高新區(qū)尚陽路12號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請實(shí)施例提供的芯片封裝結(jié)構(gòu)制作方法及芯片封裝結(jié)構(gòu),涉及封裝技術(shù)領(lǐng)域,在上述方法中,先在粘連層上制作芯片限位結(jié)構(gòu),然后再在芯片限位結(jié)構(gòu)所形成的芯片限位孔中放置芯片,最后通過在芯片與芯片限位結(jié)構(gòu)之間填充第一塑封材料的形式對芯片進(jìn)行封裝。如此通過芯片限位孔對芯片進(jìn)行限位,再進(jìn)行封裝,可以避免第一塑封材料在進(jìn)行封裝的過程中因高溫下流動(dòng)及第一塑封材料的收縮而引起的芯片位置偏移,確保芯片封裝質(zhì)量。 |
