用于集電子的檢測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202021680912.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN212747642U | 公開(公告)日 | 2021-03-19 |
申請公布號 | CN212747642U | 申請公布日 | 2021-03-19 |
分類號 | G01N19/04(2006.01)I;G01B5/252(2006.01)I;G01B5/245(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 史振華;辛吉;張金艷;任麗俐;吳宇豪;蔡慶泉 | 申請(專利權(quán))人 | 浙江長虹飛獅電器工業(yè)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 嘉興啟帆專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 翁斌 |
地址 | 314000浙江省嘉興市經(jīng)濟(jì)開發(fā)區(qū)城南街道朝暉路268號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種用于集電子的檢測裝置,包括底座、垂直度測試結(jié)構(gòu)、同心度測試結(jié)構(gòu)以及焊接強(qiáng)度測試結(jié)構(gòu);垂直度測試結(jié)構(gòu)包括開設(shè)于底座上的第一針孔和圓槽;同心度測試結(jié)構(gòu)包括百分表、旋轉(zhuǎn)軸和頂桿;旋轉(zhuǎn)軸安裝于底座的背面,具有定位孔;頂桿軸向可移動(dòng)裝配于頂桿內(nèi),以及頂桿的端部具有頂針部;百分表固定于底座上;焊接強(qiáng)度測試結(jié)構(gòu)包括開設(shè)于底座上的凹槽和裝配于凹槽上的兩塊擋塊,凹槽與擋塊之間形成供集電子的底蓋進(jìn)入的限位槽,兩塊的擋塊之間形成供集電子的銅針伸出的開口,凹槽的底壁上具有與開口對應(yīng)的避讓槽。本實(shí)用新型不但檢測方便,而且檢測精度高。?? |
