超大尺寸電容屏單膜的開短路測(cè)試方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811617271.6 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN109444650B 公開（公告）日 2021-07-30
申請(qǐng)公布號(hào) CN109444650B 申請(qǐng)公布日 2021-07-30
分類號(hào) G01R31/52（2020.01）;G01R31/54（2020.01） 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉曉兵 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市歐珀達(dá)科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 代理人 陳衛(wèi);練逸夫
地址 518118 廣東省深圳市坪山區(qū)坪山街道六聯(lián)社區(qū)華美巷22-2
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種超大尺寸電容屏單膜的開短路測(cè)試方法和測(cè)試設(shè)備，包括如下步驟：對(duì)電容屏單模的金手指處設(shè)置與金手指導(dǎo)電的擴(kuò)展延伸結(jié)構(gòu)。采用多個(gè)獨(dú)立測(cè)試電極單獨(dú)與每個(gè)所述金手指的末端導(dǎo)電連接，同時(shí)采用一個(gè)公共測(cè)試電極與一導(dǎo)電長(zhǎng)條連接，并且將所述導(dǎo)電長(zhǎng)條壓合在所述電容屏單膜上，形成電容結(jié)構(gòu)。分別讀取每個(gè)獨(dú)立測(cè)試電極與公共測(cè)試電極之間的電容值和電流值，從而確定所述電容屏單膜的是否存在開路或短路。本發(fā)明通過(guò)增加測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)，降低探針壓合治具的精準(zhǔn)度的要求，便于治具的制作與維護(hù)。同時(shí)保護(hù)接口處金手指位置銀漿不會(huì)受損。并利用條形導(dǎo)電體與單膜形成電容，不限于尺寸，不需要大型設(shè)備，節(jié)約測(cè)試成本，提高測(cè)試效率。