測(cè)試頭

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202130497059.7 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN307124553S 公開(kāi)（公告）日 2022-02-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN307124553S 申請(qǐng)公布日 2022-02-22
分類號(hào) 10-05 （13） 分類 -
發(fā)明人 成家柏 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 杭州廣立微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 江蘇坤象律師事務(wù)所 代理人 趙新民
地址 310012浙江省杭州市西湖區(qū)西斗門路3號(hào)天堂軟件園A幢15樓F1座
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：測(cè)試頭。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：用于晶圓級(jí)集成電路的電學(xué)參數(shù)測(cè)試。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀與圖案的結(jié)合。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：立體圖。