一種標定測量模塊相對電壓偏置誤差的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111055621.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113777471A 公開（公告）日 2021-12-10
申請公布號 CN113777471A 申請公布日 2021-12-10
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R35/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 毛渲;鄭勇軍;楊靖;吳鑫;陳巍;成家柏 申請（專利權）人 杭州廣立微電子股份有限公司
代理機構 江蘇坤象律師事務所 代理人 趙新民
地址 310012浙江省杭州市西湖區(qū)西斗門路3號天堂軟件園A幢15樓F1座
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供標定測量模塊相對電壓偏差誤差方法，包括選擇固定電阻與四個測量模塊；固定電阻引出四端A、B、C、D；對任意兩個測量模塊進行標定包括測量模塊1在A端施加電流I，測量模塊2在B端施加電壓V；測量模塊3和測量模塊4量測C、D兩端的電勢V1、V2，得到固定電阻的阻值R1；測量模塊1在A端施加電壓V，測量模塊2在B端施加電流I；測量模塊3和測量模塊4量測C、D兩端的電勢V1’、V2’，得到固定電阻的阻值R2；平均計算得到真實電阻R；通過R1或R2與R的差值，得到測量模塊3和測量模塊4的相對電壓偏置誤差為ΔV。通過對測量模塊之間的相對電壓偏置誤差的標定，避免測量模塊的電壓偏置誤差對測試設備的測量精度產(chǎn)生較大影響。