可尋址測試芯片用開關(guān)電路及高密度可尋址測試芯片

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111128760.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113791334A 公開（公告）日 2021-12-14
申請公布號 CN113791334A 申請公布日 2021-12-14
分類號 G01R31/28;H03K17/687 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊璐丹;尤炎;潘偉偉 申請（專利權(quán)）人 杭州廣立微電子股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 江蘇坤象律師事務(wù)所 代理人 趙新民
地址 310012 浙江省杭州市西湖區(qū)西斗門路3號天堂軟件園A幢15樓F1座
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的可尋址測試芯片用開關(guān)電路，包括若干待測器件和若干開關(guān)，能通過控制所述開關(guān)的通斷狀態(tài)以選中指定的待測器件連通測試通路；相鄰兩個所述待測器件共享位于其中一個待測器件同一端的激勵開關(guān)和感應(yīng)開關(guān)；所述待測器件、其與相鄰待測器件所共享的所述感應(yīng)開關(guān)之間連接有中間開關(guān)。本發(fā)明的開關(guān)電路能夠在測量選中的器件時，感應(yīng)端僅有連接選中的待測器件的一端導(dǎo)通而另一端關(guān)斷，解決了因共享開關(guān)而引入的繞線電阻誤差，優(yōu)化了共享電路在小電阻測量應(yīng)用中精確度。本發(fā)明還提供的高密度可尋址測試芯片因具有本發(fā)明的可尋址測試芯片用開關(guān)電路而具有相應(yīng)優(yōu)勢。