一種10匝測(cè)試架

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201920280506.0 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN209911461U 公開(公告)日 2020-01-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN209911461U 申請(qǐng)公布日 2020-01-07
分類號(hào) G01R29/20(2006.01) 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 李偉; 李雪; 閆曉茹; 紀(jì)付江; 王樹利; 孫利軍 申請(qǐng)(專利權(quán))人 天津奧納富霖科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 301900 天津市薊州區(qū)天津?qū)S闷嚠a(chǎn)業(yè)園薊運(yùn)河大街20號(hào)二層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種10匝測(cè)試架,它涉及檢測(cè)磁芯性能領(lǐng)域。它包含底板、支架、氣缸、測(cè)試頭、測(cè)試孔、擋板、測(cè)試盤、穿線孔、測(cè)試頭連接線、升降踏板、儀表連接線,所述支架固定在底板,所述支架上方固定有氣缸,所述氣缸伸縮端與升降踏板固定連接,所述升降踏板固定設(shè)置有測(cè)試頭,所述測(cè)試頭正下方的底板上貫穿開設(shè)有測(cè)試孔,在所述測(cè)試孔后方、升降踏板正下方、支架內(nèi)的底板上固定設(shè)置有擋板,所述底板底部對(duì)應(yīng)測(cè)試孔處設(shè)置有測(cè)試盤,所述測(cè)試孔同樣貫穿測(cè)試盤的中部。本實(shí)用新型有益效果為:解決了現(xiàn)有技術(shù)中普遍存在的檢測(cè)速度慢,產(chǎn)量低等問題,使用后檢測(cè)速度提高了3倍以上,減輕工人的勞動(dòng)強(qiáng)度,增加產(chǎn)量。