用于目標檢測的標簽平滑方法、裝置、設備及存儲介質
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011275128.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112418283A | 公開(公告)日 | 2021-02-26 |
申請公布號 | CN112418283A | 申請公布日 | 2021-02-26 |
分類號 | G06K9/62(2006.01)I;G06T7/62(2017.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 許耀贐;梁天明;曲延鋒;劉海洋;戴弘林 | 申請(專利權)人 | 三六零智慧科技(天津)有限公司 |
代理機構 | 深圳市世紀恒程知識產(chǎn)權代理事務所 | 代理人 | 薛福玲 |
地址 | 300000天津市濱海新區(qū)濱??萍紙@高新六路39號9-3-401號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明屬于機器學習技術領域,公開了一種用于目標檢測的標簽平滑方法、裝置、設備及存儲介質。本發(fā)明通過獲取目標檢測樣本中目標框與目標交疊框的交集面積及并集面積;根據(jù)交集面積與所述并集面積確定交并比,根據(jù)交集面積與目標框的面積確定第一交積比,并根據(jù)交集面積與目標交疊框的面積確定第二交積比;根據(jù)交并比、第一交積比及第二交積比調整目標框的類別標簽,以使類別標簽平滑;由于是通過目標交疊框與目標框的各項比值調整類別標簽,將調整后的類別標簽作為目標檢測樣本的標簽向量,可以正確反映目標檢測樣本中不同對象類別間的定量關系,且標簽平滑計算過程并不復雜,計算時間短,可以滿足工業(yè)場景中實時檢測對計算時間的要求。?? |
