基于Shmoo測試的集成電路芯片測試方法、系統(tǒng)及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110203717.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113075527A 公開（公告）日 2021-07-06
申請公布號 CN113075527A 申請公布日 2021-07-06
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 蔣信;劉瑞盛;喻濤 申請（專利權(quán)）人 普賽微科技（杭州）有限公司
代理機構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標事務(wù)所（普通合伙） 代理人 孫柳
地址 310000浙江省杭州市臨安區(qū)青山湖街道大園路1188號2幢3層3034A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供的基于Shmoo測試的集成電路芯片測試方法，包括獲取被測集成電路芯片的被測參數(shù)信息、被測集成電路芯片關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)；將被測參數(shù)信息、被測集成電路芯片關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)輸入至預(yù)設(shè)機器學習模型中，預(yù)設(shè)機器學習模型輸出與被測集成電路芯片對應(yīng)的預(yù)測的工作邊界結(jié)果和預(yù)測誤差；根據(jù)預(yù)測的工作邊界結(jié)果和預(yù)測誤差在與被測參數(shù)信息對應(yīng)的預(yù)設(shè)設(shè)定值取值區(qū)域內(nèi)選取測試值取值區(qū)域；根據(jù)被測參數(shù)信息以及測試值取值區(qū)域控制自動測試機對被測集成電路芯片進行Shmoo測試得到精準的工作邊界結(jié)果。本發(fā)明的基于Shmoo測試的集成電路芯片測試方法，減少了測試所需的時間，避免了因測試時間較長對產(chǎn)品的開發(fā)周期和測試成本造成影響。