集成電路測試方案的自動化生成方法和系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110667619.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113468301A 公開（公告）日 2021-10-01
申請公布號 CN113468301A 申請公布日 2021-10-01
分類號 G06F16/332（2019.01）I;G06F16/35（2019.01）I;G06F40/166（2020.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06N20/00（2019.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 蔣信;劉瑞盛;喻濤;李澤 申請（專利權(quán)）人 普賽微科技（杭州）有限公司
代理機構(gòu) 廣州市越秀區(qū)哲力專利商標事務所（普通合伙） 代理人 李健
地址 310000浙江省杭州市臨安區(qū)青山湖街道大園路1188號2幢3層3034A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種集成電路產(chǎn)品的自動化測試方法和系統(tǒng)，涉及芯片測試技術，方法包括以下步驟：獲取集成電路產(chǎn)品的技術文檔；從所述技術文檔中提取多個技術規(guī)格，根據(jù)多個所述技術規(guī)格生成測試計劃文檔；根據(jù)所述測試計劃文檔選擇目標自動測試設備；根據(jù)所述測試計劃文檔和所述目標自動測試設備生成針對所述測試計劃文檔中各測試項的測試程序；在所述目標自動測試設備中運行所述測試程序以對所述集成電路產(chǎn)品進行測試。本申請可以提高集成電路產(chǎn)品的測試效率。