利用數(shù)據產生器模塊來提高存儲設備讀寫測試效率的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110400460.X 申請日 -
公開（公告）號 CN102522123A 公開（公告）日 2012-06-27
申請公布號 CN102522123A 申請公布日 2012-06-27
分類號 G11C29/56(2006.01)I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 鄭茳;肖佐楠;匡啟和;王廷平;薛毅 申請（專利權）人 江蘇一乙科技創(chuàng)業(yè)有限公司
代理機構 蘇州創(chuàng)元專利商標事務所有限公司 代理人 馬明渡
地址 215011 江蘇省蘇州市高新區(qū)竹園路209號蘇州創(chuàng)業(yè)園C2031室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種利用數(shù)據產生器模塊來提高存儲設備讀寫測試效率的方法，其特征在于：預先在被測試的存儲設備中設置一個數(shù)據產生器模塊，當采用測試電腦對存儲設備進行讀寫測試時，所有的讀寫測試數(shù)據不需要在測試電腦與存儲設備之間傳送，測試電腦只要向存儲設備發(fā)送測試的寫命令和測試的讀命令，存儲設備內部的數(shù)據產生器模塊便可以按照寫命令和讀命令中的邏輯地址和數(shù)據模式代碼產生對應數(shù)據，并進行相應的讀寫操作和比對。本發(fā)明減少了批量數(shù)據的傳遞時間，大大提高了數(shù)據的讀寫速度，特別是在批量化產生大容量存儲設備時，極大的提高了存儲設備產品的整體讀寫測試效率。