一種高精度AD采樣電路及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610655809.7 申請日 -
公開（公告）號 CN106452441B 公開（公告）日 2019-08-13
申請公布號 CN106452441B 申請公布日 2019-08-13
分類號 H03M1/12 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 李露露;劉毅;王俊宇;鄭立榮;安晉靜 申請（專利權(quán)）人 復(fù)旦大學(xué)無錫研究院
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 214000 江蘇省無錫市濱湖區(qū)高浪東路999號A2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種高精度AD采樣電路及測量方法，包含Spullup開關(guān)，Scurrent開關(guān)，Sgain開關(guān)，信號輸入端子對UI?COM，Rpullup電阻，Rpoly電阻，Rcurrent電阻，Rshunt電阻，Rseries電阻和ADC采樣器；所述信號輸入端UI與Spullup開關(guān)、Rpullup電阻依次電連接；所述Rpullup電阻外加Vpullup電壓；所述信號輸入端UI與Rpoly電阻、Rseries電阻和ADC采樣器依次電連接；所述Rpoly電阻與Scurrent開關(guān)、Rcurrent電阻和信號輸入端COM依次電連接；所述Rseries電阻與Sgain開關(guān)、Rshunt電阻和信號輸入端COM依次電連接；所述Rseries電阻與極性電容和地依次電連接；所述信號輸入端COM與ADC采樣器電連接。本發(fā)明通過電子開關(guān)Spullup、Sgain將電路變化為多種組態(tài)，根據(jù)電路原理列出包含各個(gè)變量關(guān)系，從而得出實(shí)際電路特征參數(shù)。