航天衛(wèi)星光學(xué)和機械測量基準(zhǔn)統(tǒng)一精測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022083766.4 申請日 -
公開（公告）號 CN212158611U 公開（公告）日 2020-12-15
申請公布號 CN212158611U 申請公布日 2020-12-15
分類號 G01C15/00 分類 測量；測試;
發(fā)明人 朱云飛;許美娟;曾志敏 申請（專利權(quán)）人 上海格思信息技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 上海韌辰專利代理有限公司 代理人 于露萍
地址 201203 上海市浦東新區(qū)環(huán)湖西二路888號C樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于航天技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種可應(yīng)用于衛(wèi)星光學(xué)和機械測量基準(zhǔn)的統(tǒng)一精測設(shè)備。航天衛(wèi)星光學(xué)和機械測量基準(zhǔn)統(tǒng)一精測設(shè)備，包括底座，底座上設(shè)有測量環(huán)，測量環(huán)的外圓周面上均布有四塊結(jié)構(gòu)塊，其中一塊結(jié)構(gòu)塊上設(shè)有立方鏡；測量環(huán)的上表面為主基準(zhǔn)M面，測量環(huán)側(cè)邊設(shè)有側(cè)向基準(zhǔn)N面，立方鏡兩個鏡面的法線與主基準(zhǔn)M面、側(cè)向基準(zhǔn)N面之間為垂直或平行。本實用新型適用于光學(xué)基準(zhǔn)與機械基準(zhǔn)同時使用的情況，涉及范圍廣，每顆衛(wèi)星的總裝過程都可以采納，非常實用，意義甚遠(yuǎn)。