一種測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111491246.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114199142A 公開（公告）日 2022-03-18
申請公布號 CN114199142A 申請公布日 2022-03-18
分類號 G01B11/06（2006.01）I;G01B11/16（2006.01）I;G01B11/24（2006.01）I;G01N29/07（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王戈;陳魯鐵;陳復明;周海英 申請（專利權）人 上海中晨數(shù)字技術設備有限公司
代理機構 北京品源專利代理有限公司 代理人 郭利娜
地址 100102北京市朝陽區(qū)望京阜通東大街8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種測量裝置，涉及測量設備技術領域。該測量裝置包括機架、承載機構、掃描機構、第一測量機構和第二測量機構。承載機構設在機架上，承載機構用于承載試樣。掃描機構可活動地設在機架上，掃描機構與試樣之間具有間隙，掃描機構用于測量試樣的截面尺寸。第一測量機構可活動地設在機架上，第一測量機構與試樣之間具有間隙，第一測量機構用于測量試樣各區(qū)域的厚度參數(shù)。第二測量機構可活動地設在機架上。該測量裝置能夠降低試樣的測量難度，提高試樣的測量精度和測量效率，特別適合軟體材料、變截面產(chǎn)品的非接觸式無損三維尺寸的快速測量、動態(tài)彈性模量表征以及后期全尺寸范圍的自定義形變計算。