基于指標(biāo)預(yù)報(bào)和解相似度分析的光刻工序動(dòng)態(tài)調(diào)度方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201410805103.5 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN104536412A | 公開(kāi)(公告)日 | 2015-04-22 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN104536412A | 申請(qǐng)公布日 | 2015-04-22 |
分類號(hào) | G05B19/418(2006.01)I | 分類 | 控制;調(diào)節(jié); |
發(fā)明人 | 劉民;郝井華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 正大業(yè)恒生物科技(上海)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
地址 | 100084 北京市海淀區(qū)清華園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 基于指標(biāo)預(yù)報(bào)和解相似度分析的光刻工序動(dòng)態(tài)調(diào)度方法,屬于先進(jìn)制造、自動(dòng)化和信息領(lǐng)域,其特征在于,針對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)線光刻工序動(dòng)態(tài)調(diào)度問(wèn)題,提出一種動(dòng)態(tài)調(diào)度方法。該方法首先將光刻工序動(dòng)態(tài)調(diào)度問(wèn)題分解為設(shè)備選擇調(diào)度子問(wèn)題和工件排序調(diào)度子問(wèn)題,并在線建立工件排序調(diào)度子問(wèn)題的性能指標(biāo)預(yù)報(bào)模型,然后,利用基于解相似度分析的差分進(jìn)化算法求解原調(diào)度問(wèn)題。在差分進(jìn)化算法中,上述工件排序調(diào)度子問(wèn)題性能指標(biāo)預(yù)報(bào)模型用于對(duì)設(shè)備選擇調(diào)度子問(wèn)題的解進(jìn)行全局調(diào)度性能的快速粗評(píng)價(jià)。在對(duì)調(diào)度解的評(píng)價(jià)過(guò)程中,本發(fā)明采用精確評(píng)價(jià)和粗評(píng)價(jià)相結(jié)合的方式進(jìn)行差分進(jìn)化算法中解的性能評(píng)價(jià);使用該調(diào)度方法可顯著提升光刻工序生產(chǎn)調(diào)度的效率和效果。 |
