一種用于半導(dǎo)體制造流程的動態(tài)監(jiān)控方法及系統(tǒng)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202210143870.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114429311A | 公開(公告)日 | 2022-05-03 |
申請公布號 | CN114429311A | 申請公布日 | 2022-05-03 |
分類號 | G06Q10/06(2012.01)I;G06Q50/04(2012.01)I | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 鄒明蓓;朱佰喜;薛抗美;蔣彪;蔣旭霞 | 申請(專利權(quán))人 | 廣州志橙半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京中和立達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 張可 |
地址 | 510700廣東省廣州市黃埔區(qū)(中新廣州知識城)億創(chuàng)街1號406房之337 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種用于半導(dǎo)體制造流程的動態(tài)監(jiān)控方法及系統(tǒng),其方法包括:確定待制造半導(dǎo)體,并從制造流程數(shù)據(jù)庫中調(diào)取待制造半導(dǎo)體的制造流程,并獲取制造流程中的制造指標(biāo);按照制造指標(biāo)對待制造半導(dǎo)體相關(guān)的歷史制造數(shù)據(jù)進行類型分析,得到每個制造指標(biāo)的歷史數(shù)據(jù)集,并基于數(shù)據(jù)分析模型,確定對應(yīng)制造指標(biāo)存在的制造異常事件;確定對應(yīng)異常指標(biāo)在制造流程中的貫穿流程線,并基于制造異常事件確定貫穿流程線中的異常線程段,并構(gòu)建異常線程段的異常監(jiān)控集合;將異常監(jiān)控集合以及正常監(jiān)控集合,構(gòu)建待制造半導(dǎo)體的動態(tài)監(jiān)控集合,實現(xiàn)對待制造半導(dǎo)體在制造過程中的動態(tài)監(jiān)控。通過異常分析,確定異常線程段,并設(shè)置監(jiān)控集合,實現(xiàn)有效動態(tài)監(jiān)控。 |
