半導(dǎo)體產(chǎn)品外觀檢驗(yàn)載具

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121479745.2 申請日 -
公開（公告）號 CN215448952U 公開（公告）日 2022-01-07
申請公布號 CN215448952U 申請公布日 2022-01-07
分類號 G01N21/01（2006.01）I;G01N21/95（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 潘永勝 申請（專利權(quán)）人 榮成歌爾微電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京鴻元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 袁文婷;張娓娓
地址 264300山東省威海市榮成市興業(yè)路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供一種半導(dǎo)體產(chǎn)品外觀檢驗(yàn)載具，包括下托盤和設(shè)置在所述下托盤的上的上托盤，其中，在所述下托盤上設(shè)置有下型腔，在所述上托盤上設(shè)置有與所述下型腔位置對應(yīng)的上型腔，所述上型腔和所述下型腔相扣合形成產(chǎn)品型腔，待檢驗(yàn)產(chǎn)品收容至所述產(chǎn)品型腔內(nèi)。利用上述實(shí)用新型能夠減少產(chǎn)品檢驗(yàn)對半導(dǎo)體產(chǎn)品造成的二次傷害，顯著提升檢驗(yàn)效率。