用于檢測(cè)光學(xué)特性和電學(xué)特性的裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202121623467.3 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN213986173U 公開(kāi)（公告）日 2021-08-17
申請(qǐng)公布號(hào) CN213986173U 申請(qǐng)公布日 2021-08-17
分類號(hào) G01N21/25（2006.01）I;G01N21/84（2006.01）I;G01N27/00（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 鞠魯男;蔡宏太;陳海霞;董安寧;陳興海 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京卓立漢光分析儀器有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京永新同創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉健
地址 101400北京市懷柔區(qū)雁棲經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)興科東大街11號(hào)院7號(hào)樓南端三層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于檢測(cè)光學(xué)特性和電學(xué)特性的裝置。該裝置包括第一透鏡，其將面激發(fā)光引導(dǎo)至待檢測(cè)樣品的待檢測(cè)區(qū)域；電學(xué)特性檢測(cè)單元，其被配置為檢測(cè)待檢測(cè)區(qū)域在被面激發(fā)光照射之后的電學(xué)特性；第二透鏡，其將待檢測(cè)區(qū)域在被面激發(fā)光照射之后激發(fā)出的光信號(hào)引導(dǎo)至光學(xué)特性成像單元；光學(xué)特性成像單元，其包括入射狹縫并且其被配置為通過(guò)入射狹縫來(lái)收集光信號(hào)中的部分光信號(hào)；檢測(cè)部分光信號(hào)的光學(xué)特性；以及根據(jù)檢測(cè)到的部分光信號(hào)的光學(xué)特性來(lái)生成針對(duì)待檢測(cè)區(qū)域的光學(xué)特性圖像。