光譜校正方法、校正裝置及光譜采集裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110603388.4 申請日 -
公開（公告）號 CN113237549A 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN113237549A 申請公布日 2021-08-10
分類號 G01J3/28;G01J3/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 石廣立;蔡宏太;王冰 申請（專利權(quán)）人 北京卓立漢光分析儀器有限公司
代理機構(gòu) 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 董驍毅;葉明川
地址 101407 北京市懷柔區(qū)雁棲經(jīng)濟開發(fā)區(qū)興科東大街11號院7號樓南端三層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請實施例提供一種光譜校正方法、校正裝置及光譜采集裝置，所述方法包括；獲取待測光譜打在探測器不同位置時的效率；構(gòu)建一斜弧面，并根據(jù)所述斜弧面對所述待測光譜進行校正操作，其中，所述斜弧面的長度方向值和高度方向值的數(shù)值對應(yīng)關(guān)系由所述待測光譜打在探測器不同位置時的效率確定；本申請能夠快速、準確和便捷的對光譜進行校正，以使當前波長打在探測器的不同像素上時其效率保持基本一致，最終使兩次攝譜完美的拼接在一起。