電路板測試裝置及電路板測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111286982.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114019354A 公開（公告）日 2022-02-08
申請公布號 CN114019354A 申請公布日 2022-02-08
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/073（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 袁元 申請（專利權(quán)）人 環(huán)鴻電子（昆山）有限公司
代理機構(gòu) 隆天知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 黃艷
地址 215341江蘇省蘇州市昆山市千燈鎮(zhèn)黃浦江路497號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種電路板測試裝置及電路板測試方法，其包含底座、第一功能板以及第二功能板。底座包含容置空間及下開口，容置空間供放置待測的一電路板。第一功能板組設(shè)于底座且對應(yīng)下開口，第一功能板包含多個第一探針及至少一彈性轉(zhuǎn)接針，第一探針對應(yīng)電路板的多個第一測試點位，彈性轉(zhuǎn)接針與第一探針間隔排列。第二功能板可拆地組設(shè)于第一功能板與底座之間且包含多個穿孔及至少一第二探針，穿孔對應(yīng)第一探針，第二探針對應(yīng)彈性轉(zhuǎn)接針且對應(yīng)電路板的至少一第二測試點位，第二探針的一高度小于各第一探針的一高度。借此可使用不同探針類型并降低成本。