硅片測(cè)試分選系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202030076094.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN306204366S | 公開(kāi)（公告）日 | 2020-12-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN306204366S | 申請(qǐng)公布日 | 2020-12-01 |
| 分類號(hào) | 15-99 (12) | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 何金峰;馮志城 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 常州科隆威智能技術(shù)有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州通途佳捷專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 閔東 |
| 地址 | 213000 江蘇省常州市金壇區(qū)鑫城大道239號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：硅片測(cè)試分選系統(tǒng)。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：用于硅片的測(cè)試及分選。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：立體圖。5.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的底面為使用時(shí)不容易看到或看不到的部位，省略仰視圖。 |
