一種光電轉(zhuǎn)換測(cè)試用正反面測(cè)試機(jī)構(gòu)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020279611.5 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN211376592U 公開(kāi)（公告）日 2020-08-28
申請(qǐng)公布號(hào) CN211376592U 申請(qǐng)公布日 2020-08-28
分類(lèi)號(hào) H01L21/66;H01L31/18 分類(lèi) 基本電氣元件;
發(fā)明人 何金峰;馮志城 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 常州科隆威智能技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州通途佳捷專(zhuān)利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 閔東
地址 213000 江蘇省常州市金壇區(qū)鑫城大道239號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開(kāi)了一種光電轉(zhuǎn)換測(cè)試用正反面測(cè)試機(jī)構(gòu)，包括測(cè)試機(jī)本體和位于該測(cè)試機(jī)本體內(nèi)側(cè)中部的測(cè)試工位，所述測(cè)試機(jī)本體中部設(shè)置有水平的測(cè)試臺(tái)，所述測(cè)試工位位于所述測(cè)試臺(tái)中部，其特征在于，所述測(cè)試機(jī)本體上部設(shè)置有自上而下向所述測(cè)試工位投光的上發(fā)光機(jī)構(gòu)，所述測(cè)試機(jī)本體內(nèi)側(cè)下部設(shè)置有自下而上向所述測(cè)試工位投光的下發(fā)光機(jī)構(gòu)。有益效果在于：通過(guò)下發(fā)光機(jī)構(gòu)對(duì)電池硅片的背面進(jìn)行測(cè)試，可測(cè)試電池硅片背部的短路性能，從而提高電池硅片性能的測(cè)試質(zhì)量；通過(guò)對(duì)電池硅片的背部進(jìn)行測(cè)試，可得到電池硅片的伸性能、耐壓絕緣性能、抗老化性能和陰濕性能，電池硅片性能的測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確。