一種快速判定DDR芯片失效的裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202023183526.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN213751984U | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-07-20 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN213751984U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-20 |
| 分類(lèi)號(hào) | G11C29/08（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I | 分類(lèi) | 信息存儲(chǔ); |
| 發(fā)明人 | 彭軍;孫曉虎;羅里剛;何紅 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 四川長(zhǎng)虹網(wǎng)絡(luò)科技有限責(zé)任公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 成都虹橋?qū)＠聞?wù)所（普通合伙） | 代理人 | 陳立志 |
| 地址 | 621000四川省綿陽(yáng)市科創(chuàng)區(qū)創(chuàng)新中心2號(hào)樓529室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種快速判定DDR芯片失效的裝置，以便對(duì)取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本實(shí)用新型包括用于和DDR進(jìn)行讀寫(xiě)操作的MCU、用于存儲(chǔ)DDR設(shè)置參數(shù)的FLASH、用于DDR芯片電接入并固定DDR芯片的DDR測(cè)試插座、串行數(shù)據(jù)通信接口以及人機(jī)交互裝置；所述MCU分別與所述FLASH、DDR測(cè)試插座、串行數(shù)據(jù)通信接口電連接，所述串行數(shù)據(jù)通信接口與所述人機(jī)交互裝置電連接。在使用時(shí)，可將該DDR芯片放入DDR測(cè)試插座，MCU按DDR芯片的規(guī)格參數(shù)，對(duì)DDR進(jìn)行讀寫(xiě)操作，如讀寫(xiě)操作正常，表示該芯片正確，如反饋錯(cuò)誤，表示該芯片失效，進(jìn)而起到快速判定的目的。本實(shí)用新型適用于DDR芯片失效檢測(cè)。 |
