硅棒雜質(zhì)點(diǎn)位置判定方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911344522.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113030181A 公開（公告）日 2021-06-25
申請公布號 CN113030181A 申請公布日 2021-06-25
分類號 G01N25/72 分類 測量；測試;
發(fā)明人 翟傳鑫;李飛龍 申請（專利權(quán)）人 阿特斯光伏電力（洛陽）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 蘇州攜智匯佳專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 于欣
地址 471000 河南省洛陽市洛龍科技園贏洲路6號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種硅棒雜質(zhì)點(diǎn)位置判定方法，主要包括以下步驟：S1、提供紅外探傷儀和硅棒，按照紅外探傷儀的掃描順序，對硅棒的四個側(cè)面進(jìn)行掃描，形成四幅掃描圖；S2、利用紅外探傷儀對每張掃描圖進(jìn)行雜質(zhì)辨認(rèn)，并記錄下每個雜質(zhì)點(diǎn)在對應(yīng)掃描圖中的X、Y坐標(biāo)值；S3、根據(jù)掃描圖中雜質(zhì)點(diǎn)的清晰程度，選擇任意相鄰的兩張雜質(zhì)點(diǎn)清晰度高的圖，列舉出每張圖中每個雜質(zhì)點(diǎn)的X坐標(biāo)值，并將每張圖中雜質(zhì)點(diǎn)的X坐標(biāo)值單獨(dú)成列，形成兩列數(shù)據(jù)；S4、選定兩列數(shù)據(jù)中的所有數(shù)據(jù)，使生成散點(diǎn)圖，根據(jù)該散點(diǎn)圖中雜質(zhì)點(diǎn)的分布區(qū)域判定出硅棒的雜質(zhì)面。相較于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明能夠直接判斷出硅棒的雜質(zhì)面，為后續(xù)的切割工藝提供幫助。