一種槽式光熱電站回路性能檢測系統(tǒng)及其檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910365732.3 申請日 -
公開（公告）號 CN110530660A 公開（公告）日 2019-12-03
申請公布號 CN110530660A 申請公布日 2019-12-03
分類號 G01M99/00;F24S40/90 分類 測量；測試;
發(fā)明人 盧智恒;徐海衛(wèi);朱斌 申請（專利權(quán)）人 雙良龍騰光熱技術(shù)（北京）有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 100022 北京市朝陽區(qū)建國門外大街8號樓11層1103B
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種槽式光熱電站回路性能檢測系統(tǒng)，通過管道與單條測試回路連接，單條測試回路與其它回路隔離，檢測系統(tǒng)均安裝在箱體(14)內(nèi)，并且為可移動的，包括：HTF系統(tǒng)(1)；控制系統(tǒng)(2)；以及傳感器系統(tǒng)(3)；控制系統(tǒng)(2)通過控制接線向HTF系統(tǒng)(1)發(fā)送控制信號，以控制HTF系統(tǒng)(1)完成檢測系統(tǒng)內(nèi)及單條測試回路中HTF的循環(huán)；傳感器系統(tǒng)(3)的測量裝置設(shè)置在系統(tǒng)內(nèi)的管道上，用于測量單條測試回路(16)的流量及進出口溫度，分析槽式光熱電站單條回路的性能，同時對檢測系統(tǒng)內(nèi)各設(shè)備進行監(jiān)控。還公開了相應(yīng)的回路性能檢測方法，包括：向膨脹罐中加入新的HTF；回路預(yù)熱；回路注入HTF；聚焦跟蹤并測試；回路冷卻；排空HTF。