一種基于圖像的砂石粒徑分析設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202020804787.8 申請日 -
公開（公告）號 CN213714998U 公開（公告）日 2021-07-16
申請公布號 CN213714998U 申請公布日 2021-07-16
分類號 G01N15/02（2006.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/143（2017.01）I;G06T7/194（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06K9/62（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王雷沖;石英;徐俊;劉欣宇;陳定文 申請（專利權(quán)）人 中山艾尚智同信息科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中山市銘洋專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 鄒建平
地址 528400廣東省中山市火炬開發(fā)區(qū)祥興路6號數(shù)貿(mào)大廈北冀1層102卡
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開一種基于圖像的砂石粒徑分析設(shè)備，包括有固定架和安裝在固定架上的下料設(shè)備、圖像采集設(shè)備、圖像處理設(shè)備和顯示器，所述圖像采集設(shè)備與圖像處理設(shè)備連接，所述圖像處理設(shè)備與顯示器連接，所述圖像采集設(shè)備對準(zhǔn)下料設(shè)備的出料口，本實用新型具有結(jié)構(gòu)簡單合理、檢測效率高效且檢測成本低的優(yōu)點，檢測結(jié)果準(zhǔn)確，大大降低噪音，使檢測周邊的環(huán)境更加舒適，符合人們的使用需求。