一種高電流測(cè)試探針及探針組件

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201921399840.4 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN210604724U 公開（公告）日 2020-05-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN210604724U 申請(qǐng)公布日 2020-05-22
分類號(hào) G01R1/067;G01R31/26 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 劉麗貞 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市容微精密電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳鴻業(yè)專利代理有限公司 代理人 深圳市容微精密電子有限公司
地址 518000 廣東省深圳市龍華區(qū)觀瀾樟坑徑金倡達(dá)科技園F棟2樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及芯片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，它涉及一種高電流測(cè)試探針，包括針體和導(dǎo)電套，導(dǎo)電套設(shè)有供針體容納的內(nèi)腔，內(nèi)腔的內(nèi)壁抵接針體側(cè)壁，內(nèi)腔相對(duì)的兩端設(shè)有供針體兩端部分別穿出的通孔；本實(shí)用新型采用在探針外套設(shè)導(dǎo)電套，導(dǎo)電套的內(nèi)壁與高電流測(cè)試探針抵接配合，可以增加電流經(jīng)過高電流測(cè)試探針的導(dǎo)通的橫截面積，使高電流可以順暢通過，從而提高測(cè)試的穩(wěn)定性。本實(shí)用新型還涉及一種探針組件，包括上述高電流測(cè)試探針，還包括探針座，探針座上設(shè)置有多個(gè)高電流測(cè)試探針。