一種可用于高頻測(cè)試的光學(xué)芯片檢測(cè)座

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110224616.7 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113009320A 公開（公告）日 2021-06-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN113009320A 申請(qǐng)公布日 2021-06-22
分類號(hào) G01R31/28;G01R1/04 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王文兵;劉才君;劉澤鑫 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳市容微精密電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 重慶壹手知專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 劉軍
地址 518100 廣東省深圳市龍華區(qū)觀湖街道樟坑徑社區(qū)上圍工業(yè)區(qū)2000069棟金倡達(dá)F棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種可用于高頻測(cè)試的光學(xué)芯片檢測(cè)座，具體涉及芯片檢測(cè)領(lǐng)域，包括箱體，所述箱體設(shè)有滑槽一，所述滑槽一上部滑動(dòng)連接有多個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)滑塊，多個(gè)所述轉(zhuǎn)動(dòng)滑塊上部固定連接有轉(zhuǎn)盤，所述轉(zhuǎn)盤內(nèi)部設(shè)有多個(gè)固定槽，多個(gè)所述固定槽為倒置錐形，且多個(gè)所述固定槽內(nèi)部均固定連接有限位塊，所述箱體左側(cè)固定連接有連接柱，所述連接柱右側(cè)設(shè)有滑槽二，所述滑槽二內(nèi)部滑動(dòng)有多個(gè)T形滑塊，多個(gè)所述T形滑塊遠(yuǎn)離連接柱一側(cè)固定連接有上檢測(cè)座，所述上檢測(cè)座下部固定連接有安裝板，所述安裝板內(nèi)部固定連接有多個(gè)探測(cè)針。本發(fā)明在進(jìn)行檢測(cè)時(shí)機(jī)械化程度更高，進(jìn)行流水檢測(cè)，檢測(cè)方式更加方便，檢測(cè)效率更高。