一種適用于大電流測試的探針測試底座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010554812.6 申請日 -
公開（公告）號 CN111537869A 公開（公告）日 2020-08-14
申請公布號 CN111537869A 申請公布日 2020-08-14
分類號 G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分類 -
發(fā)明人 劉澤鑫 申請（專利權(quán)）人 深圳市容微精密電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳鴻業(yè)專利代理有限公司 代理人 深圳市容微精密電子有限公司
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)觀湖街道樟坑徑社區(qū)上圍工業(yè)區(qū)2000069棟金倡達(dá)F棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種適用于大電流測試的探針測試底座，涉及高鐵及汽車電子芯片測試領(lǐng)域，該一種適用于大電流測試的探針測試底座，包括基板，基板的上端開設(shè)有放置槽，基板的表面開設(shè)有固定孔，基板的內(nèi)壁設(shè)置有連接裝置，連接裝置包括包裹座，包裹座位于基板的內(nèi)壁，包裹座的表面與基板的內(nèi)壁固定連接，包裹座的上端插設(shè)并固定連接有導(dǎo)筒，導(dǎo)筒的下端固定連接有連接桿，導(dǎo)筒的內(nèi)壁固定連接有壓縮彈簧，壓縮彈簧的上端固定連接有導(dǎo)桿。在使用時，將基板與電路板電性連接，將被檢測芯片插入放置槽中，檢測芯片與導(dǎo)桿相抵，壓縮彈簧受力變形產(chǎn)生彈力并扭曲，導(dǎo)桿受力插入導(dǎo)筒中，導(dǎo)桿在壓縮彈簧的扭曲下產(chǎn)生偏移并與導(dǎo)筒的內(nèi)壁相抵。??