一種基于邊緣增強(qiáng)的擴(kuò)展目標(biāo)波前探測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110037235.8 申請日 -
公開（公告）號 CN112857750A 公開（公告）日 2021-05-28
申請公布號 CN112857750A 申請公布日 2021-05-28
分類號 G01M11/02(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 楊博;宋偉紅 申請（專利權(quán)）人 四川中科朗星光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都熠邦鼎立專利代理有限公司 代理人 李曉英
地址 610000四川省成都市高新區(qū)天府二街368號2幢14層3號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于邊緣增強(qiáng)的擴(kuò)展目標(biāo)波前探測方法，包括S1，獲取待測擴(kuò)展目標(biāo)圖像；S2，利用邊緣增強(qiáng)算子對每幅待測擴(kuò)展目標(biāo)圖像進(jìn)行邊緣增強(qiáng)；S3，計算S2所得的每幅圖像與模板圖像的相關(guān)矩陣；S4，找出每個相關(guān)度矩陣的最大值，計算出待測擴(kuò)展目標(biāo)圖像與模板圖像的相對位置偏移量；S5，將相對位置偏移量向量與像差模式系數(shù)重構(gòu)矩陣相乘，得到波前像差模式系數(shù)，完成波前測量。本發(fā)明利用邊緣增強(qiáng)算子對哈特曼波前傳感器子孔徑所得圖像進(jìn)行邊緣增強(qiáng)后，在低對比度情況下，圖像帶入相關(guān)函數(shù)計算所得的相關(guān)矩陣準(zhǔn)確度可大幅提升，進(jìn)而提升子孔徑所得圖像與模板圖像之間的相對位移量的計算準(zhǔn)確度，最終使得波前像差系數(shù)重構(gòu)精度得到顯著提升。??