帶狀光纖熔接損耗估算方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201711476168.X 申請日 -
公開（公告）號 CN108227077A 公開（公告）日 2018-06-29
申請公布號 CN108227077A 申請公布日 2018-06-29
分類號 G02B6/255 分類 光學(xué);
發(fā)明人 李楚元 申請（專利權(quán)）人 上海浦東發(fā)展銀行股份有限公司威海分行
代理機構(gòu) 上海漢聲知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 一諾儀器（中國）有限公司
地址 264207 山東省威海市高技區(qū)天津路190號院內(nèi)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提出一種帶狀光纖熔接損耗估算方法及系統(tǒng)，該方法包括：分析熔接完成后的帶狀光纖圖像，計算光纖熔接點的一定距離范圍的曲率參數(shù)，所述曲率參數(shù)包括：包層上邊緣曲率最大值、包層下邊緣曲率最大值、纖芯上邊緣曲率最大值、纖芯下邊緣曲率最大值以及軸心曲率最大值；獲取光纖測試結(jié)果中可能導(dǎo)致光纖彎曲的致彎參數(shù)；將所述致彎參數(shù)和曲率參數(shù)作為初步自變量，將測試的實際損耗作為因變量，獲取若干測試數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練樣本，進行線性回歸計算，根據(jù)自變量與因變量之間的相關(guān)系數(shù)篩選出其中的優(yōu)化自變量；根據(jù)所述實際損耗和優(yōu)化自變量構(gòu)建多元線性回歸模型，根據(jù)所述多元線性回歸模型進行損耗估算。提高損耗估算的準確度。