一種用于材料檢測(cè)的電磁波檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111113012.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113607757A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-11-05 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113607757A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-05 |
| 分類號(hào) | G01N22/00（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 楊塞新;孫運(yùn)斌 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 三兄弟（珠海）科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京識(shí)然知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 曾慶國(guó) |
| 地址 | 519000廣東省珠海市橫琴新區(qū)寶華路6號(hào)105室-32087（集中辦公區(qū)） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于材料檢測(cè)的電磁波檢測(cè)裝置，包括，發(fā)射高功率微波的磁控管、第一檢測(cè)裝置、反射波耦合裝置、衍射放大器、電子分選裝置、接收處理器、數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元用于獲取用于鑒定材料的相關(guān)信息；本發(fā)明提供的電磁波檢測(cè)裝置，主要用于檢測(cè)通過(guò)高功率微波輻照的材料的反射電磁波，以及對(duì)材料進(jìn)行量子化處理后，材料自身發(fā)射的量子信息的檢測(cè)，為材料的鑒定手段提供了科學(xué)依據(jù)。 |
