一種帶點(diǎn)對(duì)點(diǎn)多光通路光學(xué)部件的MiniLED檢測(cè)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110622495.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113390612A 公開（公告）日 2021-09-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN113390612A 申請(qǐng)公布日 2021-09-14
分類號(hào) G01M11/02（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 魏偉;黃飛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 鹽城東紫光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 代理人 郭微
地址 224000江蘇省鹽城市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)漓江路66號(hào)光電產(chǎn)業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種帶點(diǎn)對(duì)點(diǎn)多光通路光學(xué)部件的MiniLED檢測(cè)設(shè)備，包括點(diǎn)對(duì)點(diǎn)陣列光通路光學(xué)部件，陣列探針，移動(dòng)平臺(tái)，移動(dòng)馬達(dá)，遮光透光部件，電路控制系統(tǒng)，陣列光譜儀，特制CCD，特制光源，定位部件。本方案通過設(shè)有的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)陣列光通路光學(xué)部件，實(shí)現(xiàn)多個(gè)LED同時(shí)導(dǎo)電發(fā)出的光經(jīng)過不同的光通路分別進(jìn)入不同的光譜儀，能減少多個(gè)LED通電檢測(cè)時(shí)間，提高了檢測(cè)速度，提高了效率，降低了成本，增加了MiniLED測(cè)試廠家的利潤(rùn)，具有極大的市場(chǎng)空間，值得全行業(yè)推廣使用。