一種帶點(diǎn)對(duì)點(diǎn)多光通路光學(xué)部件的MiniLED檢測設(shè)備的使用方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110622493.2 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113324739A 公開（公告）日 2021-08-31
申請(qǐng)公布號(hào) CN113324739A 申請(qǐng)公布日 2021-08-31
分類號(hào) G01M11/02（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏偉;黃飛 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 鹽城東紫光電科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 代理人 郭微
地址 224000江蘇省鹽城市經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)漓江路66號(hào)光電產(chǎn)業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種帶點(diǎn)對(duì)點(diǎn)多光通路光學(xué)部件的MiniLED檢測設(shè)備的使用方法，包括步驟一：將帶有LED陣列的藍(lán)膜平鋪到平臺(tái)部件之上；步驟二：調(diào)整LED陣列與探針陣列相適應(yīng)；步驟三：將陣列探針扎到陣列LED的對(duì)應(yīng)電極上；步驟四：通過計(jì)算機(jī)程序控制電源通電同時(shí)測量陣列LED的光電參數(shù)并通過定位測量的LED的位置；步驟五：通過計(jì)算機(jī)程序控制移動(dòng)馬達(dá)將探針扎到下一批LED的電極上并進(jìn)行測量；步驟六：重復(fù)四五步驟四和步驟五將所有陣列的LED光電參數(shù)測量一遍并結(jié)合定位數(shù)據(jù)保存。本方案介紹了帶點(diǎn)對(duì)點(diǎn)多光通路光學(xué)部件的MiniLED檢測設(shè)備的使用方法,通過本使用方法，可以快速實(shí)現(xiàn)陣列LED的探測，提高了工作效率，降低了測量時(shí)間，降低了成本，增加了利潤。