一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110622493.2 申請日 -
公開（公告）號 CN113324739A 公開（公告）日 2021-08-31
申請公布號 CN113324739A 申請公布日 2021-08-31
分類號 G01M11/02（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 魏偉;黃飛 申請（專利權）人 鹽城東紫光電科技有限公司
代理機構 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 代理人 郭微
地址 224000江蘇省鹽城市經濟技術開發(fā)區(qū)漓江路66號光電產業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法，包括步驟一：將帶有LED陣列的藍膜平鋪到平臺部件之上；步驟二：調整LED陣列與探針陣列相適應；步驟三：將陣列探針扎到陣列LED的對應電極上；步驟四：通過計算機程序控制電源通電同時測量陣列LED的光電參數(shù)并通過定位測量的LED的位置；步驟五：通過計算機程序控制移動馬達將探針扎到下一批LED的電極上并進行測量；步驟六：重復四五步驟四和步驟五將所有陣列的LED光電參數(shù)測量一遍并結合定位數(shù)據(jù)保存。本方案介紹了帶點對點多光通路光學部件的MiniLED檢測設備的使用方法,通過本使用方法，可以快速實現(xiàn)陣列LED的探測，提高了工作效率，降低了測量時間，降低了成本，增加了利潤。