MEMS微動(dòng)平臺(tái)的檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111167838.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN113998662A 公開(kāi)(公告)日 2022-02-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN113998662A 申請(qǐng)公布日 2022-02-01
分類號(hào) B81B7/02(2006.01)I;B81C99/00(2010.01)I 分類 微觀結(jié)構(gòu)技術(shù)〔7〕;
發(fā)明人 齊強(qiáng)先;王鵬;謝會(huì)開(kāi) 申請(qǐng)(專利權(quán))人 無(wú)錫微奧科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京博雅睿泉專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 代理人 周禮濤
地址 214000江蘇省無(wú)錫市新區(qū)菱湖大道200號(hào)中國(guó)傳感網(wǎng)國(guó)際創(chuàng)新園B2-305室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開(kāi)了一種MEMS微動(dòng)平臺(tái)的檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,檢測(cè)裝置包括:振動(dòng)源,所述振動(dòng)源用于產(chǎn)生包含MEMS微動(dòng)平臺(tái)諧振頻率的振動(dòng),所述振動(dòng)源能夠使一個(gè)或多個(gè)所述MEMS微動(dòng)平臺(tái)同時(shí)振動(dòng);觀測(cè)裝置,所述觀測(cè)裝置用于觀察所述MEMS微動(dòng)平臺(tái)的振動(dòng)狀態(tài)。本申請(qǐng)的檢測(cè)裝置,通過(guò)對(duì)MEMS微動(dòng)平臺(tái)自身頻率響應(yīng)的檢測(cè),能夠一次性檢測(cè)振動(dòng)源上的所有MEMS微動(dòng)平臺(tái)的結(jié)構(gòu)良率,有效提高M(jìn)EMS微動(dòng)平臺(tái)的檢測(cè)效率和檢測(cè)準(zhǔn)確率。同時(shí)該MEMS微動(dòng)平臺(tái)的檢測(cè)裝置,成本較低,且不會(huì)在MEMS微動(dòng)平臺(tái)上留下扎針痕跡,破壞MEMS微動(dòng)平臺(tái)的結(jié)構(gòu)。