車規(guī)級整流芯片的制成方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111212869.9 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114005733A | 公開(公告)日 | 2022-02-01 |
申請公布號 | CN114005733A | 申請公布日 | 2022-02-01 |
分類號 | H01L21/02(2006.01)I;H01L21/306(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 馬奕超 | 申請(專利權(quán))人 | 深圳辰達行電子有限公司 |
代理機構(gòu) | 深圳市創(chuàng)富知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 李秀麗 |
地址 | 518031廣東省深圳市福田區(qū)梅林街道梅都社區(qū)中康路128號卓越梅林中心廣場(北區(qū))4號樓1402 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及半導(dǎo)體晶圓技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及車規(guī)級整流芯片的制成方法,包括如下步驟:預(yù)先提供硅晶片,對硅晶片兩面涂布光刻膠并按照掩模圖形進行曝光,以使硅晶片表面形成鏤空圖形;根據(jù)中曝光的鏤空圖形,使用混合酸對硅晶片表面形成的圖形進行腐蝕,形成圓環(huán)溝槽;通過有機溶劑去除硅晶片表面的膠及其他有機污染物,隨后使用無塵布或無塵棉蘸丙酮輕輕擦洗;本發(fā)明中,通過刻蝕技術(shù)在硅晶片的表面形成圓環(huán)溝槽,使其整流基材的整體無邊角,因此電流在流動的過程中不會出現(xiàn)向邊角集中的情況,避免了現(xiàn)有的車規(guī)級整流芯片由于邊角處電流集中而發(fā)生芯片邊角處被提前擊穿而失效的問題,提高了車規(guī)級整流芯片的抗反向浪涌電流能力差。 |
